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TECHNICAL ARTICLES
更新時間：2020-08-19
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傳統的X射線熒光光譜儀（XRF）分析時要求制樣均勻，既熔片、壓片、金屬塊或液體等。
但如果遇到不均勻的樣品或對特殊樣品的某一區域感興趣時，傳統的分析就無法滿足需求了。
這時需要進行微區分析，也就是針對小尺寸樣品或樣品某一特定區域進行定性、定量或元素分布分析。
傳統的微區分析方法包括：
?—掃描電鏡（SEM）
?—激光剝離等離子質譜（LA-ICPMS）
?—帶毛細管聚焦的能量色散X射線熒光光譜儀等
?但這些分析手段或多或少的都存在一些局限：
—分析樣品尺寸小
?—靈敏度一般
?—精度不夠
—?以及有的會對樣品造成破壞等等
?而波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）的微區分析則很好地解決了這些問題：
?—憑借HighSenseTM技術和市面同等儀器小尺寸準直器面罩（300μm），第二代S8 TIGER能對小到0.3mm并可選1.25mm的微小區域開展高靈敏度的元素定性、定量、無標樣定量及元素分布分析，步長0.1mm。
?—輕元素采用正比探測器，重元素采用閃爍探測器，靈敏度提高10倍，實現了同級別儀器里真正的微區分析。
?—此外，高清攝像頭能夠對感興趣區域拍攝圖片，保證微區分析的針對性和重現性。
它可以在科研（地質、材料科學）和質量控制（電子、材料科學、鍍層）上給予我們幫助，可以分析不均勻的地質、生物樣品或進行技術產品的監控（CIS/CIGS 太陽能電池），它還可以對小顆粒或導致產品不合格的異物（聚合物、玻璃、金屬等產品的問題判斷）進行確認等等。
應用實例：
1
分析隕石
▲來自美國亞利桑那州巴林杰隕石坑“Canyon Diablo”的鐵鎳隕石
2
分析化石
▲鸚鵡螺化石
3
分析礦物
▲鈮鉭鐵礦
4
分析耐火材料
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